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991.
1.3μm高增益偏振无关应变量子阱半导体光放大器 总被引:4,自引:2,他引:4
采用低压金属有机化学气相外延法 (LP MOVPE)生长并制作了 1 3μm脊型波导结构偏振无关半导体光放大器 (SOA) ,有源区为基于四个压应变量子阱和三个张应变量子阱交替生长的混合应变量子阱 (4C3T)结构 ,压应变阱宽为 6nm ,应变量 1 0 % ,张应变阱宽为 11nm ,应变量 - 0 95 % ;器件制作成 7°斜腔结构以有效抑制腔面反射。半导体光放大器腔面蒸镀Ti3 O5/Al2 O3 减反 (AR)膜以进一步降低腔面剩余反射率至 3× 10 -4以下 ;在 2 0 0mA驱动电流下 ,光放大器放大的自发辐射 (ASE)谱的 3dB带宽大于 5 0nm ,光谱波动小于 0 4dB ,半导体光放大器管芯的小信号增益近 30dB ,在 12 80~ 1340nm波长范围内偏振灵敏度小于 0 6dB ,饱和输出功率大于 10dBm ,噪声指数 (NF)为 7 5dB。 相似文献
992.
分层实体制造激光头切割路径的建模与优化 总被引:7,自引:0,他引:7
分层实体制造(LOM)技术中分层制造时间是由该层的切割速度与切割路径确定的,当切割工艺参数(如:切割功率、切割速度)确定之后,每一层制造的时间是由该层切割(扫描)路径确定的。因此优化切割(扫描)路径对提高成型效率有重要意义,而分层实体制造技术中激光切割路径优化的实质是空行程路径的优化。建立了切割路径空行程路径优化的数学模型。由于求解该模型的复杂性,采用了分级规划的两个分步算法:首先用改进的最近邻域算法求解轮廓边界线上的切割起点,然后当切割点确定后把路径优化问题归结为旅行售货员问题(TSP),采用了高效的智能仿生算法一蚁群系统算法来求解。运行结果表明,该算法显著缩短了分层制造中的空行程,提高了快速原型制造的效率。 相似文献
993.
共边排样件激光切割路径的规划 总被引:2,自引:1,他引:2
排样软件的应用使材料利用率得到了很大提高,然而后续切割软件若不能保证有效地切割零件、保证零件质量及提高生产率,则排样软件在材料利用率上获得的收益将丧失。基于图论学理论,建立了规则与非规则零件共边排样时激光切割路径规划的数学模型,给出了在充分考虑加工质量、加工效率、制造成本情况下的激光切割路径优化目标:打孔点最少以及切割中割嘴空行程最短。提出了满足激光切割工艺要求的三个切割路径优化算法:用于求解理想情况下共边切割路径优化问题的一个新的欧拉回路算法;基于奇度顶点完全图最小权最大匹配算法来求解一般情况下共边切割路径优化问题的算法;利用废料区域进一步减少打孔点的处理策略与求解算法。给出了各种算法的运行实例,验证了所提出的算法的有效性。 相似文献
994.
Ar+激光辐照下离体猪鼻咽组织的热响应特性 总被引:3,自引:1,他引:3
为了获得用于鼻咽癌(NPC)光活检的Ar^ 激光对鼻咽组织的安全光剂量阈值,实验测定了离体猪鼻咽组织在Ar^ 激光辐照下不同位置的温度分布,重点研究了辐照功率密度和波长对组织中温度分布的影响。实验结果表明,组织中的温度分布与探测位置、激光波长以及激光辐照功率密度有关。在同一波长激光辐射下,组织中的温度随着辐照激光功率密度的增大而增大,当辐照功率密度达到1.85W/cm^2时,鼻咽组织黏膜下层的温度可超过41.5℃;在相同功率密度激光的辐照下,波长为514.5nm的激光照射鼻咽组织时的光热效应较488nm波长明显。 相似文献
995.
激光辐照光学材料热力效应的解析计算和损伤评估 总被引:10,自引:0,他引:10
光学元件的损伤是高功率激光技术发展的一个瓶颈,为此以连续CO2激光辐照K9玻璃为例,研究了连续激光辐照光学材料的热力损伤机理。通过积分变换方法,求解热传导和热弹性力学方程组,由此得到激光辐照引起的温度场和热应力场的瞬态分布。研究中发现在高斯光束作用下,热扩散长度的概念不再适用,因此通过曲线拟合方法,推导出最大热应力的位置与辐照时间的关系,并由此计算出材料的损伤阈值。由于K9玻璃的应力损伤阈值小于熔融损伤阈值,因此当激光作用引起的环向热应力大于材料的抗拉强度时,材料发生永久性损伤,损伤形态为拉伸解理。将理论模型的相关结论与实验结果相对比,两者吻合得很好。 相似文献
996.
997.
使用振荡器产生的飞秒激光在透明有机材料PMMA表面进行了刻划微结构光栅的研究.通过理论分析得到了飞秒激光参数和平台移动速度对线宽的影响,进行了系统的加工实验,加工结果与理论分析基本吻合.在透明有机材料PMMA表面进行了多种光栅的刻划,并对刻划的光栅进行了衍射和色散测试,调整光栅的尺寸和排列方式,得到了形状各异的衍射图案。 相似文献
998.
Xiaoyu Li Thomas Scott Shao Yang Chris Cromer Marla Dowell 《Journal of research of the National Institute of Standards and Technology》2004,109(4):429-434
We briefly explain the fundamentals of detector nonlinearity applicable to both electrical and optical nonlinearity measurements. We specifically discuss the attenuation method for optical nonlinearity measurement that the NIST system is based upon, and we review the possible sources of nonlinearity inherent to thermal detectors used with high-power lasers. We also describe, in detail, the NIST nonlinearity measurement system, in which detector responsivity can be measured at wavelengths of 1.06 µm and 10.6 µm, over a power range from 1 W to 1000 W. We present the data processing method used and show measurement results depicting both positive and negative nonlinear behavior. The expanded uncertainty of a typical NIST high-power laser detector calibration including nonlinearity characterization is about 1.3 %. 相似文献
999.
1000.